MIT新冠檢測晶片 掃毒只需3分鐘

記者陳弋/綜合報導

中央研究院物理研究所研究員陳啟東。(圖/中研院提供)
中央研究院物理研究所研究員陳啟東。(圖/中研院提供)

中央研究院物理研究所陳啟東研究員團隊研發「矽奈米線場效應電晶體」技術,打造全球首款新冠病毒快速檢測晶片系統,單次樣本檢測只需3分鐘。

中研院表示,全球首款新冠病毒檢測晶片去年12月底通過食品藥物管理署緊急使用授權(EUA)核准製造,適合布署在機場、人潮較多的檢驗站,為第一線防疫人員添加檢測利器。

新冠病毒檢測晶片。(圖/中研院提供)
新冠病毒檢測晶片。(圖/中研院提供)

新冠篩檢目前普遍採用聚合酶連鎖反應(PCR)核酸檢測,須透過螢光標識且耗時較久,且受限於光學解析度,若檢體中的病毒等致病因子含量太少時,便無法透過光學訊號判讀。陳啟東表示,新冠病毒檢測晶片系統所使用的核心技術「矽奈米線場效應電晶體」(silicon nanowire field-effect transistor, 簡稱SiNW-FET)是一種半導體技術應用,以電流訊號檢測,具快速、即時、高靈敏度等特性。

此技術同時結合分子檢測方法,將可辨識新冠病毒核酸的生物探針分子(probe)固定在SiNW-FET晶片上。當晶片偵測到檢體內含有新冠病毒核酸序列,電流訊號會上升,進而得知檢體含有新冠病毒。單次樣本檢測只需3分鐘,完整檢測包含檢體、陰性樣本、陽性樣本對照,以及人員作業時間,20分鐘內可取得檢驗結果。

陳啟東說明,相較於PCR以光學設備進行驗證,SiNW-FET直接以電訊號檢測,利用待測物(如蛋白質、DNA等)本身的帶電特性,偵測電荷分布的改變,因此能擺脫光學侷限,快速、準確測出微量分子,大幅縮短檢測時間。

相較於PCR以光學設備進行驗證,SiNW-FET直接以電訊號檢測。(圖/中研院提供)
相較於PCR以光學設備進行驗證,SiNW-FET直接以電訊號檢測。(圖/中研院提供)

矽奈米線場效應電晶體近年來廣泛使用在生醫感測元件上。然而,如何整合元件並建立一套生物感測系統是一大挑戰。陳啟東對此鑽研超過10年,從一開始在實驗室及無塵室設計和製作SiNW-FET,後來再請半導體廠代工晶片製程。

「初期的實驗失敗率很高,」陳啟東回憶,半導體場效元件有不同的製程,較常見的是金屬氧化物半導體場效電晶體 (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor, MOSFET),而他所研發的矽奈米線場效應電晶體則不含金屬閘極,很難控制暴露於外的矽通道表面之材料性質,屢屢受挫。這十幾年來,他不斷研究測試各種形式的SiNW-FET並優化製程,以提高感測元件的性能與穩定性,迄今研發出2項專利,並已技轉給廠商。

中研院指出,本次新冠病毒晶片檢測系統整合「半導體製程技術」與「生物科技」等2大領域,獲技轉的矽基分子電測科技股份有限公司(Molsentech)核心成員來自陳啟東研究團隊,且為國家生技研究園區進駐廠商,致力於半導體生醫晶片即時檢測的開發與應用。團隊原鎖定急性腎衰竭、口腔癌等特定病症,後來因新冠疫情爆發,遂投入新冠病毒快速檢測研發,由陳啟東提供技術協助,國家實驗研究院台灣儀器科技研究中心進行安規前期驗證,高雄榮總執行臨床測試。

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