偲倢科技攜手中央大學資工系 重塑瑕疵檢測新標準

▲偲倢科技與<a class="link " href="https://tw.news.yahoo.com/tag/中央大學" data-i13n="sec:content-canvas;subsec:anchor_text;elm:context_link" data-ylk="slk:中央大學;sec:content-canvas;subsec:anchor_text;elm:context_link;itc:0">中央大學</a>資工系合作,致力於工業瑕疵檢測領域的創新研究。(左為偲倢科技執行長陳青煒,右為國立中央大學資工系蘇柏齊教授)。(圖/偲倢科技提供)
▲偲倢科技與中央大學資工系合作,致力於工業瑕疵檢測領域的創新研究。(左為偲倢科技執行長陳青煒,右為國立中央大學資工系蘇柏齊教授)。(圖/偲倢科技提供)

【民眾新聞-張嘉誠/綜合報導】

偲倢科技(Spingence Technology)日前宣布與國立中央大學資訊工程學系展開深度合作,共同致力於工業瑕疵檢測領域的創新研究與開發。以「建立工業瑕疵檢測之通用深度學習模型暨標記方法」為合作宗旨,旨在打破瑕疵檢測領域的技術束縛,提升檢測效能,並降低檢測成本。

工業瑕疵檢測一直是製造業品質控制中至關重要的一環。然而,傳統的檢測方法往往受限於人工目測方式,耗時耗力且不夠準確。為了解決這一挑戰,偲倢科技與中央大學資訊工程學系攜手展開此次合作,期望能夠通過深度學習技術的應用,實現工業瑕疵檢測的自動化和高精度。

偲倢科技 AI 開發經理黃靖瑋表示:「這次合作的動機源於我們對工業瑕疵檢測領域的深入觀察。傳統的通用模型存在限制,特別是在適應新任務和新環境方面。因此,我們希望通過與中央大學的合作,開發更加通用且適應性更強的深度學習模型,以應對工業瑕疵檢測的各種挑戰。」

具體來說,此次研究計畫將聚焦於兩大挑戰:通用模型之限制和資料標記之繁複性。首先,傳統的通用模型在工業瑕疵檢測中難以應對不同的環境和任務,且存在 Catastrophic Forgetting 的風險。因此,研究團隊將致力於開發更加通用的深度學習模型,提高模型在新任務中的適應性和訓練速度。

其次,資料標記是工業瑕疵檢測中的一大挑戰。資料標記包含包覆框標記和裁切標記,即使前者對標記員的負擔較小,然而多數模型都需要裁切標記,且其生成過程較為繁複,因此,研究團隊將面臨著如何將包覆框標記轉換為裁切標記的挑戰。

「我們相信,通過偲倢科技與中央大學資訊工程學系的合作,我們將能夠打破瑕疵檢測領域的技術束縛,為工業品質控制帶來一次革命性的改變。」黃靖瑋經理期待地表示。「我們期待著透過此次合作,為工業瑕疵檢測領域帶來更加準確、高效的解決方案,助力製造業提升產品品質,提升競爭力。」

這次合作將為工業瑕疵檢測領域注入新的活力與創新,進一步推動智慧製造的發展,偲倢科技期待著在這個領域取得更多突破和成就。