化合物半導體IC動態測試新紀元 筑波科技x美商泰瑞達推整合方案
【記者 倪玉濱/竹縣 報導】台灣新竹,2023年09月01日 - 筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作,推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案,為半導體行業市場帶來突破性的競爭優勢。半導體功能測試(FT)向來需要克服各種挑戰,包括複雜的案例設計、執行和系統維護、數據分析管理,以及對測試環境穩定性的高度要求。如何以單一機台實現CP與FT測試的一機多用,實現DUT批次特性驗證,產線大批量生產並兼顧「動態和靜態」測試,成為了業界關注的焦點。
ETS 動態測試整合方案結合多種專為IPM/PIM測試而設計之硬體配置(包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head),ETS-88擁有雙扇區設計,為系統帶來高度靈活性,使其能在LAB環境下驗證CP&FT。該方案集成動態RDSon測試和AC測試功能,其獨特一體化測試頭設計,更在靜動態測試實現重大突破,確保高度的穩定整合與便利。
該方案展現業界領先的多項優勢:DC測試提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC測試(2KV/2KA)、SC測試(8KA)、支持動態RDSon、至多10組的多脈衝測試、動靜一體式的測試頭、小於20nH的測試頭雜散電感、最小的電流精度nA等,同時提供多Site的FT測試和CP測試,搭配標準軟件客製化,整體開發周期短於兩個月,同時能夠獲得本地服務支持。總體而言,ETS GaN Mos FT以其價格合理、靈活性高和一體化整合等特點,為客戶帶來全新測試體驗。
透過與泰瑞達ETS的合作,筑波科技為客戶提供全面的解決方案,實現高效、高便捷性的測試。ETS GaN Mos整合四大關鍵性能:業界領先的高測試效率、100%高穩定性、靈活高效的動態測試性能,以及自主研發的便捷使用及調適功能軟件。這些性能實現重複循環測試,支持任意脈衝數開關測試,實現不同電流等級開關參數的一次性測試,不影響測試時間。此外,還支持多模式的短路電流測試,可實現上下管單管短路和上下管直通短路測試,並可選擇VIN和ITRIP(CSC)作為關斷信號,測試程序的自動裝載及數據輸出工具一鍵操作,在批次測試結束時自動生成Excel格式數據,實現繼電器的可視化調適和壽命管控,以及測試項目的快速選擇工具。
筑波科技結合泰瑞達ETS在全球超過6600台以上的裝機量市場優勢,共同提供軟件客製化整合策略:融合方案整合設計(探針台/卡、分選機、Load Board、Socket之一站式ATE連接DUT設計)、特殊環境模擬設備、ETS系列、研發類One Box機台,實現AC to DC一體測試(AC/DC),現在到未來的一機實現(650 vs 3KV),單工位到多工位的一架多位(1~16 Site),從研發到量產(CP/FT/Module)、單機到整合(Customized Software)等全方位方案。筑波科技在台灣及中國深圳設有半導體工程中心,可提供本地化的即時服務。