汎銓喜獲台、日「矽光子光損偵測裝置」發明專利 引領矽光子CPO檢測技術

半導體產業鏈研發領航者汎銓科技股份有限公司(6830)近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利,目前持續進行歐美韓中專利申請流程中,此項專利涵蓋了一種專門用於偵測半導體導光晶片之導光通道異常現象的裝置與工法,這些異常現象包括光衰、漏光和斷光偵測,能夠有效解決在矽光子積體光路(PIC)中常見的問題。

矽光子積體光路是一種將光電子元件(如光纖、光放大器、光調變器等)與電子元件(如電晶體、電容、電感等)集成於同一個晶片上的技術。這樣的設計使得光與電之間的高效能轉換成為可能。然而,矽光子積體光路在光傳輸過程中會產生一定的光損失,包括較低功率的光傳輸損失,並且這些損失往往難以進行有效量測,尤其是漏光位置無法被準確....

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汎銓喜獲台、日「矽光子光損偵測裝置」發明專利 引領矽光子CPO檢測技術

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